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J-GLOBAL ID：200902247893782939   整理番号：08A0981584

多型質のベイジアン量的形質遺伝子座マッピング

Bayesian Quantitative Trait Loci Mapping for Multiple Traits

著者 (3件)： BANERJEE Samprit (Univ. Alabama, Alabama) ,  YANDELL Brian S. (Univ. Wisconsin, Wisconsin) ,  YI Nengjun (Univ. Alabama, Alabama)
資料名： Genetics  (Genetics)
巻： 179  号： 4  ページ： 2275-2289  発行年： 2008年08月 
JST資料番号： B0351B  ISSN： 0016-6731  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (3件)： 多型 ,  ジアン ,  量的形質遺伝子座マッピング