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J-GLOBAL ID：200902248355136209   整理番号：05A0669338

多数マルチプレクシング-ナノアーキテクチャのための経済的冗長性故障耐性設計

Majority Multiplexing-Economical Redundant Fault-Tolerant Designs for Nanoarchitectures

著者 (2件)： ROY Sandip (Washington State Univ., WA, USA) ,  BEIU Valeriu (United Arab Emirates Univ., Al-Ain, ARE)
資料名： IEEE Transactions on Nanotechnology  (IEEE Transactions on Nanotechnology)
巻： 4  号： 4  ページ： 441-451  発行年： 2005年07月 
JST資料番号： W1355A  ISSN： 1536-125X  CODEN： ITNECU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 次世代集積回路の性能改良が進展することに伴い,計算や通信処理...

シソーラス用語： *多重装置 ,...
準シソーラス用語： ナノアーキテクチャ ,...

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分類 (2件)： その他の伝送回路素子  (NC04070U) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (6件)： マルチプレクシング ,  アーキテクチャ ,  経済 ,  冗長性 ,  故障耐性 ,  設計