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J-GLOBAL ID：200902248431481743   整理番号：08A1065639

“視る”技術が導く新しい高分子材料の分析・評価技術 放射光X線顕微鏡によるマイクロ分析イメージング

著者 (1件)： 篭島靖 (兵庫県大 大学院物質理学研究科)
資料名： ポリファイル  (Polyfile)
巻： 45  号： 10  ページ： 40-45  発行年： 2008年10月10日 
JST資料番号： S0870A  ISSN： 0910-2175  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 1980年代に超精密・超微細加工技術の著しい進歩により,高精度のX線レンズの製作が可能になり,さらにシンクロトロン放射光の登場により高強度のX線が利用可能になり,X線顕微鏡の開発研究は著しく進歩した。ここでは,放射光X線顕微鏡によるマイクロ分析イメージングの現状を紹介した。X線には軟X線(波長1~4nm程度)と,硬X線(波長0.05~0.25nm程度)がある。硬X線顕微鏡の研究が近年活発であり,微小X線ビームをプローブとする分析顕微鏡と,X線光学素子を拡大レンズに用いる結像型顕微鏡がある。X線光学素子,結像型顕微鏡,顕微干渉計によるX線位相計測について解説した。

シソーラス用語： 軟X線 ,  硬X線 ,  画像処理 ,  微量分析 ,  プローブ ,  光学素子 ,  レンズ ,  結像 ,  干渉計 ,  シンクロトロン放射 ,  *X線顕微鏡 ,  *分析
準シソーラス用語： イメージング ,  シンクロトロン放射光 ,  ミクロ分析

分類 (2件)： 分析機器  (CC02020S) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (7件)： 高分子材料 ,  分析 ,  評価 ,  放射光 ,  X線顕微鏡 ,  マイクロ分析 ,  イメージング