抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
代表点法は,標準点状線源を用いてゲルマニウム半導体検出器の効率校正を精度よく行うための方法である。代表点法を円滑に実施するための計算コードとして,今回,CREPT-MCNP 1.1(Calibration Code for the Representative Point Method with MCNP)を整備した。この計算コードには,体積試料の計数効率曲線に等価な計数効率曲線を与える点(代表点)を探索するための機能や,代表点で測定した計数効率に対し自己吸収効果の補正を行う機能などが含まれており,これらの機能を実行することにより目的とする計数効率を得る。評価対象は,p型およびn型Ge半導体検出器により測定可能な,エネルギー範囲が20keVから2MeVの光子である。CREPT-MCNP1.1は,Windows PC環境でGUI形式で動作する。本報は,CREPT-MCNPの機能と使用方法についてとりまとめたものである。(著者抄録)