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J-GLOBAL ID：200902250536089940   整理番号：06A0981766

ステップ走査白色X線断面トポグラフィーによる単結晶内部構造の三次元可視化

Three-dimensional visualization of the inner structure of single crystals by step-scanning white X-ray section topography
著者 (4件)：
MUKAIDE Taihei

MUKAIDE Taihei について

(CANON Inc., JPN)

CANON Inc., JPN について

, 
KAJIWARA Kentaro

KAJIWARA Kentaro について

(Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., JPN)

Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., JPN について

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NOMA Takashi

NOMA Takashi について

(CANON Inc., JPN)

CANON Inc., JPN について

, 
TAKADA Kazuhiro

TAKADA Kazuhiro について

(CANON Inc., JPN)

CANON Inc., JPN について


資料名：
Journal of Synchrotron Radiation  (Journal of Synchrotron Radiation)

Journal of Synchrotron Radiation について


巻： 13  号： 6  ページ： 484-488  発行年： 2006年11月 
JST資料番号： W0763A  ISSN： 0909-0495  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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単結晶での格子欠陥三次元分布の可視化を,シート状X線を用いた...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*単結晶

単結晶 について

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準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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Laue法

Laue法 について

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分類 (2件)：
分類
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X線回折法 
(BK01020I)

X線回折法 について

,  格子欠陥の観察・実験技術 
(BK12020U)

格子欠陥の観察・実験技術 について

タイトルに関連する用語 (6件)：
タイトルに関連する用語
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走査

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白色X線

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トポグラフィー

トポグラフィー について

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単結晶

単結晶 について

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内部構造

内部構造 について

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三次元可視化

三次元可視化 について


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