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J-GLOBAL ID：200902250665174423   整理番号：07A0102106

Ag-SiO-Bi₂Sr₂CaCu₂O_8+δ積層型トンネル接合におけるゼロバイアスコンダクタンスピークのブロードニングの起源-回路理論による拡散的常伝導体の影響の検証-

著者 (5件)： 重田出 (熊本電波工高専) ,  田仲由喜夫 (名古屋大 工) ,  市川聡夫 (熊本大 理) ,  浅野泰寛 (北大 工) ,  米田正 (熊本電波工高専)
資料名： 熊本電波工業高等専門学校研究紀要(CD-ROM)  (Research Reports of Kumamoto National College of Technology (CD-ROM))
号： 33  ページ： 67-80  発行年： 2006年11月 
JST資料番号： X0835B  ISSN： 1349-4694  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 最近,ゼロバイアスコンダクタンスピーク(ZBCP)は,トンネ...

シソーラス用語： *トンネル接合 ,...
準シソーラス用語： ゼロバイアスコンダクタンスピーク ,...

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分類 (1件)： 酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I)

タイトルに関連する用語 (8件)： Ag ,  SiO ,  トンネル接合 ,  起源 ,  回路理論 ,  拡散 ,  常伝導体 ,  検証