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J-GLOBAL ID：200902250677771818   整理番号：09A0764919

光プラズモンと単一プラズモン源の近傍場電気検出

Near-field electrical detection of optical plasmons and single-plasmon sources

著者 (9件)： FALK Abram L. (Harvard Univ., Massachusetts, USA) ,  KOPPENS Frank H.L. (Harvard Univ., Massachusetts, USA) ,  YU Chun L. (Harvard Univ., Massachusetts, USA) ,  KANG Kibum (Pohang Univ. Sci. and Technol., Gyungbuk, KOR) ,  SNAPP Nathalie de Leon (Harvard Univ., Massachusetts, USA) ,  AKIMOV Alexey V. (Harvard Univ., Massachusetts, USA) ,  JO Moon-Ho (Pohang Univ. Sci. and Technol., Gyungbuk, KOR) ,  LUKIN Mikhail D. (Harvard Univ., Massachusetts, USA) ,  PARK Hongkun (Harvard Univ., Massachusetts, USA)
資料名： Nature Physics  (Nature Physics)
巻： 5  号： 7  ページ： 475-479  発行年： 2009年07月 
JST資料番号： W2060A  ISSN： 1745-2473  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表面プラズモンポラリトン(SPP)に基づくナノスケールのフォトニック回路は光を回折限界以下に閉じ込める有望な回路だが,SPPの遠方場検出効率が低いことが課題である。本報では,この問題を解決するために,導波プラズモンとナノワイヤFETの近傍場結合に基づく新しい全電気SPP検出器を提案した。このSPP検出器をSiO₂膜を有する縮退ドープSi基板上にGeナノワイヤとAgナノワイヤをドロップキャスティングによって作製した。Ag-Geクロスバーデバイスに沿ってレーザビームを走査し,Geナノワイヤを通る電流を回折限界レーザスポットの位置の関数として測定し,電気プラズモン検出を実証した。この方法で,SPP導波路に結合する単一プラズモン源としての個々のコロイド量子ドットからのプラズモン放出も検出できた。これらの結果は新しいオンチップ光センシングを可能にし,SPPを遠方場なしで生成,操作,検出するオプトプラズモニックナノ回路への道を開く鍵になる。

シソーラス用語： *表面プラズモン ,  検出器 ,  *近傍場 ,  FET【トランジスタ】 ,  *ナノワイヤ ,  ゲルマニウム ,  *銀 ,  レーザビーム ,  電気測定 ,  量子ドット ,  半導体チップ ,  コロイド ,  固体素子
準シソーラス用語： *SPP検出器 ,  ナノデバイス ,  ナノワイヤFET ,  プラズモニクス ,  金属導波路 ,  単一プラズモン源 ,  *表面プラズモンポラリトン

分類 (3件)： 量子光学一般  (BD04010X) ,  固体プラズマ  (BM02160W) ,  その他の光デバイス  (BD06060O)

タイトルに関連する用語 (2件)： プラズモン ,  近傍場