文献

J-GLOBAL ID：200902251404683998   整理番号：08A0578803

単一分子伝導の測定

Measurement of Single-Molecule Conductance

著者 (5件)： CHEN Fang (Arizona State Univ., Arizona) ,  HIHATH Joshua (Arizona State Univ., Arizona) ,  HUANG Zhifeng (Arizona State Univ., Arizona) ,  LI Xiulan (Arizona State Univ., Arizona) ,  TAO N. J. (Arizona State Univ., Arizona)
資料名： Annual Review of Physical Chemistry  (Annual Review of Physical Chemistry)
巻： 58  ページ： 535-564  発行年： 2007年 
JST資料番号： W1684A  ISSN： 0066-426X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 単一分子の電気伝導率の測定には単一分子の取り扱いに加えて分子-電極接合が重要な課題となる。関連実験技術について総説した。A.分子膜の測定(バルク電極,ナノ電極)B.単一分子測定(走査プローブ法,固定電極,分子接合の機械的生成(機械的に制御可能な破断接合点,走査型トンネル顕微鏡を用いる破断接合点,原子間力顕微鏡の伝導率プローブを用いる破断接合点,走査型トンネル顕微鏡を用いる破断接合点,他の点接続測定)C.単一分子の電気伝導率測定における問題点の吟味(分子-電極接合構造,分子-電極エネルギー準位の配列,外力の影響,環境の影響,電流に起因する局所加熱の影響)

シソーラス用語： *分子 ,  *電気伝導率 ,  計測 ,  電極 ,  *接合 ,  *微小電極 ,  マイクロプローブ ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  原子間力顕微鏡 ,  力
準シソーラス用語： ナノプローブ ,  ナノ電極 ,  外力 ,  測定 ,  測定方法 ,  単分子膜 ,  *単一分子

分類 (3件)： 分子の電気的・磁気的性質  (BH05032U) ,  非金属化合物に見られる電子伝導  (BM03034D) ,  界面の電気的性質一般  (BM03081H)

タイトルに関連する用語 (2件)： 単一分子 ,  伝導