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J-GLOBAL ID:200902252208226771   整理番号:08A0278834

イオン照射により製造したL10-A1FePtパターン化薄膜の磁化過程のMFM解析

MFM analysis of the magnetization process in L10-A1 FePt patterned film fabricated by ion irradiation
著者 (7件):
資料名:
巻: 56  号:ページ: 1564-1569  発行年: 2008年04月 
JST資料番号: A0316A  ISSN: 1359-6454  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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0.1原子%(1.5×1014イオンcm-2)の量のGa+イオンを,収束イオンビーム(FIB)により薄膜面に対して垂直な〔001〕結晶集合組織を持つL10FePt上に照射した。また軟磁性領域(A1構造,100nm幅)により隔てられた高い保磁力を持つ四角形(L10構造,300×300nm2及び100×100nm-2)から成る二次元パターンを製造した。パターン化薄膜の磁気ドメイン構造が,インフィールド磁気力顕微鏡(MFM)により観察された。磁気残留状態において,薄膜表面に垂直な磁気化されている領域が,L10四角面の中央部で認められた。一方逆磁気化した狭い領域は,四角形の周辺部である。磁化過程を,MFM観察に基づいて議論する。Copyright 2008 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (1件):
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磁気的性質 
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