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J-GLOBAL ID：200902252451427696   整理番号：08A0771501

高分解能透過型電子顕微鏡像に及ぼすマイクロ双晶の形状の効果

Shape effect of microtwins on high-resolution transmission electron microscope images

著者 (5件)： KURAMOCHI K. (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  YAMAZAKI T. (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  NAKANISHI N. (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  HASHIMOTO I. (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  WATANABE K. (Tokyo Metropolitan Coll. Industrial Technol., Tokyo, JPN)
資料名： Physica Status Solidi. A. Applications and Materials Science  (Physica Status Solidi. A. Applications and Materials Science)
巻： 205  号： 7  ページ： 1602-1605  発行年： 2008年07月 
JST資料番号： D0774A  ISSN： 1862-6300  CODEN： PSSABA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高分解能透過型電子顕微鏡(HRTEM)像に及ぼすマイクロ双晶の形状の効果に関する研究結果を報告する。Siに対する実験像,対応するFourier変換像および動的シミュレーションの間の詳細な比較から,HRTEM像に及ぼすマイクロ双晶の形状の効果が超格子構造と同じである人為的なコントラストを生み出すことが分かった。従って,マイクロサイズの欠陥,ナノサイズの素子,量子ドットなどの形状効果に関する情報が,HRTEM像において観測される正確な構造を理解するのに必要である。

シソーラス用語： 高分解能電子顕微鏡 ,  *双晶 ,  形状効果 ,  Fourier変換 ,  画像 ,  計算機シミュレーション ,  超格子 ,  ナノ構造 ,  量子ドット ,  ケイ素 ,  半導体 ,  透過型電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察 ,  計算機利用 ,  利用
準シソーラス用語： 超格子構造 ,  ミクロ双晶 ,  Fourier

分類 (1件)： 半導体の格子欠陥  (BK12040Q)

タイトルに関連する用語 (3件)： 高分解能透過型電子顕微鏡 ,  マイクロ ,  双晶