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J-GLOBAL ID：200902252718218692   整理番号：06A0255259

微量重金属分析用蛍光X線分析装置の土壌環境評価への応用

Soil Quality Evaluation Using EDXRF Designed for Trace Metal Analysis

著者 (5件)： 丸茂克美 (産業技術総合研 地質情報研究部門) ,  氏家亨 (国土防災技術) ,  小野木有佳 (産業技術総合研 地質情報研究部門) ,  根本尚大 (産業技術総合研 地質情報研究部門) ,  松野賢吉 (産業技術総合研 地質情報研究部門)
資料名： X線分析の進歩  (X線工業分析)
巻： 37  ページ： 75-97  発行年： 2006年03月31日 
JST資料番号： Z0547B  ISSN： 0911-7806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 土壌環境評価を行う上で,有害重金属による汚染の有無の評価は最...

シソーラス用語： *エネルギー分散蛍光X線分析 ,...

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分類 (3件)： 無機物質中の元素の物理分析  (CC03022H) ,  鉛とその化合物  (SB05024Q) ,  土壌汚染  (FB04100T)

引用文献 (15件)：

• 北村信, 石井武政, 寒川旭, 中川久夫: 仙台地域の地質, 仙台地域の地質, 地域地質研究報告, 5万分の1地質図幅, 地質調査所 (1986).
• 水平学, 岩瀬正晴: 環境浄化技術, 9(2), 80(2003).
• 永山裕之, 小沼亮子, 保倉明子, 中井泉, 松田賢士, 水平学, 赤井孝夫: X線分析の進歩, 36, 235(2005).
• 織田久男: “微量成分, 土の環境圏”, 岩田進午, 喜田大三監修, p. 1388(1997)(フジテクノシステム).
• 丸茂克美, 江橋俊臣, 氏家亨: 資源地質, 53(2), 125(2003).

タイトルに関連する用語 (6件)： 重金属 ,  分析 ,  蛍光X線分析装置 ,  土壌環境 ,  評価 ,  応用