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J-GLOBAL ID：200902253142862538   整理番号：03A0342493

すれすれ入射小角X腺散乱 ナノ構造高分子膜研究のための最新散乱技術

Grazing incidence small-angle X-ray scattering. An advanced scattering technique for the investigation of nanostructured polymer films.

著者 (1件)： MUELLER-BUSCHBAUM P (TU Muenchen, Garching, DEU)
資料名： Analytical & Bioanalytical Chemistry  (Analytical & Bioanalytical Chemistry)
巻： 376  号： 1  ページ： 3-10  発行年： 2003年05月 
JST資料番号： E0425B  ISSN： 1618-2642  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 極めて小さな試料容積の薄膜構造の分析に,小角X腺散乱法の限界...

シソーラス用語： *小角X線散乱 ,...

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分類 (3件)： その他の構造決定法  (BK01070L) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  高分子固体の構造と形態学  (CG02022M)

物質索引 (2件)： スチレン ,  イソプレン

タイトルに関連する用語 (5件)： すれすれ入射 ,  散乱 ,  ナノ構造 ,  高分子膜 ,  研究