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J-GLOBAL ID:200902253142862538   整理番号:03A0342493

すれすれ入射小角X腺散乱 ナノ構造高分子膜研究のための最新散乱技術

Grazing incidence small-angle X-ray scattering. An advanced scattering technique for the investigation of nanostructured polymer films.
著者 (1件):
資料名:
巻: 376  号:ページ: 3-10  発行年: 2003年05月 
JST資料番号: E0425B  ISSN: 1618-2642  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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極めて小さな試料容積の薄膜構造の分析に,小角X腺散乱法の限界...
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分類 (3件):
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その他の構造決定法  ,  有機化合物の薄膜  ,  高分子固体の構造と形態学 
タイトルに関連する用語 (5件):
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