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J-GLOBAL ID：200902253390112987   整理番号：06A0552166

漏れ全反射による導体の複素屈折率の可視化

Visualization of the complex refractive index of a conductor by frustrated total internal reflection

著者 (4件)： BLIOKH Yu. P. (Dep. of Physics, Technion-Israel Inst. of Technol., 32000 Haifa, ISR) ,  VANDER R. (Dep. of Physics, Technion-Israel Inst. of Technol., 32000 Haifa, ISR) ,  LIPSON S. G. (Dep. of Physics, Technion-Israel Inst. of Technol., 32000 Haifa, ISR) ,  FELSTEINER J. (Dep. of Physics, Technion-Israel Inst. of Technol., 32000 Haifa, ISR)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 89  号： 2  ページ： 021908-021908-3  発行年： 2006年07月10日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ガラスプリズム中の全反射が,金属表面の近接によりフラストレー...

シソーラス用語： *屈折率 ,...
準シソーラス用語： 表面プラズモン共鳴

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分類 (1件)： 光物性一般  (BM08010A)

タイトルに関連する用語 (3件)： 導体 ,  複素屈折率 ,  可視化