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J-GLOBAL ID:200902253924143085   整理番号:08A0316612

応力解析における回折法の相補性

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資料名:
巻: 74  号: 739  ページ: 302-307  発行年: 2008年03月25日 
JST資料番号: F0227B  ISSN: 0387-5008  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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回折現象を利用した応力測定技術について解説し,最近の研究動向を紹介した。結晶格子による回折現象を利用し,歪測定を行う方法を説明した。ついで,多結晶中での3種類の応力状態を説明し,実験室X線法,放射光法,中性子法について各々の測定原理と相補性及び測定事例を解説した。さらに,放射光の高輝度・高指向性を利用した応力測定,中性子の飛行時間法による応力測定などの研究動向を述べた。
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分類 (3件):
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X線回折法  ,  中性子回折法  ,  電磁場中の粒子の運動及び放射 
引用文献 (22件):
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タイトルに関連する用語 (3件):
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