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J-GLOBAL ID：200902255516348682   整理番号：08A0570907

同位体顕微鏡を用いた太陽系の起源物質の探索

著者 (1件)： 圦本尚義 (北大)
資料名： 質量分析総合討論会講演要旨集  (Book of Abstracts. Annual Conference on Mass Spectrometry)
巻： 56th  ページ： 228-229  発行年： 2008年 
JST資料番号： L1264A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *質量分析 ,  *太陽系 ,  *微量分析 ,  微粒子 ,  *同位体存在比 ,  顕微鏡観察 ,  酸素同位体 ,  *顕微鏡 ,  二次イオン質量分析
準シソーラス用語： *起源 ,  *同位体顕微鏡

分類 (5件)： 質量分析  (CC03013N) ,  同位体存在比,質量スペクトル  (BH02030R) ,  その他の同位体地球化学  (MC03020J) ,  太陽系一般  (DB04010T) ,  核化学・放射化学一般  (CB10010V)

タイトルに関連する用語 (6件)： 同位体 ,  顕微鏡 ,  太陽系 ,  起源 ,  物質 ,  探索