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J-GLOBAL ID：200902256321088038   整理番号：06A0722370

銅線電気抵抗率におよぼすフォノン,幾何構造,不純物と粒子サイズの影響

Influence of phonon, geometry, impurity, and grain size on Copper line resistivity

著者 (4件)： PLOMBON J. J. (Intel Corp., 5200 N. E. Elam Young Parkway, Hillsboro, Oregon 97124-6497) ,  ANDIDEH Ebrahim (Intel Corp., 5200 N. E. Elam Young Parkway, Hillsboro, Oregon 97124-6497) ,  DUBIN Valery M. (Intel Corp., 5200 N. E. Elam Young Parkway, Hillsboro, Oregon 97124-6497) ,  MAIZ Jose (Intel Corp., 5200 N. E. Elam Young Parkway, Hillsboro, Oregon 97124-6497)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 89  号： 11  ページ： 113124-113124-3  発行年： 2006年09月11日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 380Kまで10K間隔で温度の関数として75~500nm範囲...

シソーラス用語： *電気抵抗率 ,...
準シソーラス用語： 粒界

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分類 (1件)： 金属結晶の電子伝導  (BM03033M)

タイトルに関連する用語 (6件)： 銅線 ,  電気抵抗率 ,  フォノン ,  幾何構造 ,  不純物 ,  粒子サイズ