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J-GLOBAL ID:200902256973545341   整理番号:09A1252843

SiO2上のPd活性化自己集合単分子層を伴った無電解Ni-Mo-P拡散層

Electroless Ni-Mo-P diffusion barriers with Pd-activated self-assembled monolayer on SiO2
著者 (3件):
資料名:
巻: 166  号:ページ: 67-75  発行年: 2010年01月15日 
JST資料番号: T0553A  ISSN: 0921-5107  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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超巨大スケール集積回路(ULSI)中でのCu相互接続のための拡散障壁層として3元Niベースの非晶質膜が使える。本論文では,SiO2層上にスパッタしたシード層無しで無電解めっきしたNi-Mo-P膜をPd活性化自己集合単分子層(SAM)により作った。前処理および堆積のための溶液と運転条件について述べ,Pd活性化SAMの形成をXPS(X線光電子分光)分析とBSE(後方散乱電子)観測で実証した。電解質中に加えたNa2MoO4の濃度,pH値および浴温度のNi-Mo-P膜の表面形態と組成への効果を調べた。微細構造,拡散障壁の性質,電気抵抗および付着を吟味した。実験結果に基づくと,Pd活性化SAMを使って作ったNi-Mo-P合金は非晶質または非晶質類似の構造を持ち,拡散障壁層として良好な性能を持つ。Copyright 2009 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (3件):
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半導体集積回路  ,  固体中の拡散一般  ,  無電解めっき 

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