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J-GLOBAL ID：200902257402367140   整理番号：06A0938801

故障タプルを用いた欠陥モデリング

Defect Modeling Using Fault Tuples

著者 (3件)： BLANTON R. D. (Carnegie Mellon Univ., PA, USA) ,  DWARAKANATH Kumar N. (Carnegie Mellon Univ., PA, USA) ,  DESINENI Rao (Carnegie Mellon Univ., PA, USA)
資料名： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 25  号： 11  ページ： 2450-2464  発行年： 2006年11月 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 故障タプルを用いた故障モデリングを検討し,故障タプルがディジ...

シソーラス用語： *電子回路 ,...

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分類 (1件)： 電子回路一般  (NC05010N)

タイトルに関連する用語 (3件)： 故障 ,  欠陥 ,  モデリング