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J-GLOBAL ID：200902257847180121   整理番号：06A0590140

超熱的二次イオンによるDNA成分の反応性散乱損傷

Reactive Scattering Damage to DNA Components by Hyperthermal Secondary Ions

著者 (4件)： DENG Zongwu (Univ. Sherbrooke, Quebec, CAN) ,  BALD Ilko (Univ. Sherbrooke, Quebec, CAN) ,  ILLENBERGER Eugen (Univ. Sherbrooke, Quebec, CAN) ,  HUELS Michael A. (Univ. Sherbrooke, Quebec, CAN)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 96  号： 24  ページ： 243203.1-243203.4  発行年： 2006年06月23日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 重イオンの飛跡に生じる超熱的二次イオンとDNA成分との物理化...

シソーラス用語： *DNA【核酸】 ,...

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分類 (2件)： イオンと分子の衝突・散乱  (BH07040L) ,  核酸一般  (EB04010U)

タイトルに関連する用語 (4件)： 二次イオン ,  DNA ,  反応性散乱 ,  損傷