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J-GLOBAL ID：200902258112368875   整理番号：08A0198945

イオンビーム照射によって誘発される微生物の突然変異の分子的特性

Molecular characterization of microbial mutations induced by ion beam irradiation

著者 (8件)： ICHIDA Hiroyuki (Graduate School of Sci. and Technol., Chiba Univ., Matsudo, Chiba 271-8510, JPN) ,  ICHIDA Hiroyuki (Accelerator Applications Res. Group, Nishina Center for Accelerator-Based Sci., RIKEN, Wako, Saitama 351-0198, JPN) ,  MATSUYAMA Tomoki (Cellular Biochemistry Lab., Discovery Res. Inst., RIKEN, Wako, Saitama 351-0198, JPN) ,  RYUTO Hiromichi (Accelerator Operation Group, Nishina Center for Accelerator-Based Sci., RIKEN, Wako, Saitama 351-0198, JPN) ,  HAYASHI Yoriko (Accelerator Applications Res. Group, Nishina Center for Accelerator-Based Sci., RIKEN, Wako, Saitama 351-0198, JPN) ,  FUKUNISHI Nobuhisa (Accelerator Operation Group, Nishina Center for Accelerator-Based Sci., RIKEN, Wako, Saitama 351-0198, JPN) ,  ABE Tomoko (Accelerator Applications Res. Group, Nishina Center for Accelerator-Based Sci., RIKEN, Wako, Saitama 351-0198, JPN) ,  KOBA Takato (Graduate School of Sci. and Technol., Chiba Univ., Matsudo, Chiba 271-8510, JPN)
資料名： Mutation Research  (Mutation Research)
巻： 639  号： 1-2  ページ： 101-107  発行年： 2008年03月01日 
JST資料番号： C0520A  ISSN： 0027-5107  CODEN： MRFMEC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 蔗糖感受性の遺伝子組換え根粒菌を用いての遺伝子破壊の正の選択システムを確立し,イオンビーム照射によって誘発される突然変異の分子的特性化に利用した。レポーター系が高度に加速された炭素及び鉄イオンビームで照射されると,一塩基置換,挿入及び欠失が蔗糖感受性遺伝子sacBで起こることを見いだした。全ての挿入系において,本質的に同じ配列フラグメントと約1188bpのフラグメントを,sacB領域で同定した。欠失系では,鉄イオンが炭素イオンより大きい欠失を誘発する傾向を示し,より高いLETビームがより大きい欠失を起こすことを示唆した。また,イオンビーム,特に「重」イオンビームは単一遺伝子の破壊を起こし,遺伝子組換えアプローチの効果的な代替となる可能性を見いだした。Copyright 2008 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *イオンビーム ,  *突然変異 ,  遺伝子破壊 ,  *イオン照射 ,  挿入突然変異 ,  欠失突然変異 ,  重イオン ,  *Mesorhizobium loti ,  *sacB遺伝子 ,  *リゾビウム属
準シソーラス用語： *根粒菌属 ,  組換 ,  SNP

分類 (2件)： 遺伝的変異  (EC01030Y) ,  微生物に対する影響  (EE04020O)

タイトルに関連する用語 (5件)： イオンビーム照射 ,  誘発 ,  微生物 ,  突然変異 ,  分子