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J-GLOBAL ID：200902258278648418   整理番号：09A1206069

希薄Cl^-環境中におけるステンレス鋼のすきま腐食発生時間におよぼす電位と温度の影響

The Effect of Potential and Temperature on Crevice Corrosion Incubation Time for Stainless Steels in Diluted Chloride Ion Environment

著者 (4件)： 崎谷美茶 (新日鐵住金ステンレス) ,  松橋亮 (新日鉄) ,  松橋透 (新日鐵住金ステンレス) ,  高橋明彦 (新日鐵住金ステンレス)
資料名： 材料と環境  (Corrosion Engineering of Japan)
巻： 58  号： 11  ページ： 378-385  発行年： 2009年11月15日 
JST資料番号： F0006A  ISSN： 0917-0480  CODEN： ZAKAEP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ステンレス鋼のすきま腐食発生時間t_INCUにおよぼす電位と温度の影響を明らかにするために,試験直前に研磨したガラスすきま付き試験片を用いて460ppm Cl^-環境中298K,323Kおよび353Kの温度で定電位試験を実施した。その結果,いずれの温度においても,卑な電位で電解するほどt_INCUは増大し,すきま腐食発生までに必要な電気量Q_INCUは同一温度であれば電位に対してほぼ一定値となるが,温度が高くなるとQ_INCUは小さくなる傾向を示した。これは,溶出した金属イオンの加水分解反応速度が温度の上昇にともなって増加しH⁺濃度が高くなり,結果的に少ない金属イオン量で脱不動態化pHに達するたかまたは,不動態皮膜の化学的溶解速度が増加するためのどちらか一方または両方と考えられる。また,t_INCUが電位依存性をもつ理由としては,すきま腐食発生に至るまでの平均的な金属の溶解電流密度i_INCUが貴な電位ほど増大することに起因している。いずれのステンレス鋼とも,温度の上昇とともにt_INCUおよびQ_INCUは低下するが,i_INCUは逆に温度の上昇とともに増大した。これらのパラメータをArrheniusプロットし,各種ステンレス鋼のt_INCU,i_INCUおよびQ_INCUに関する見かけの活性化エネルギーを求め,すきま腐食発生過程の反応を推定した。(著者抄録)

シソーラス用語： 希薄溶液 ,  塩化ナトリウム ,  塩化カリウム ,  塩化銀 ,  *アニオン ,  *イオン ,  オーステナイト系ステンレス鋼 ,  オーステナイト鋼 ,  *ステンレス鋼 ,  フェライト鋼 ,  耐熱鋼 ,  *隙間腐食 ,  腐食電位 ,  温度依存性 ,  活性化エネルギー ,  *腐食機構 ,  時間 ,  SUS316L ,  SUS304 ,  SUS430 ,  SUS444 ,  *塩化物イオン ,  *腐食 ,  *機構

分類 (1件)： 腐食基礎理論,腐食試験  (WB03020Q)

引用文献 (11件)：

• 1) T. Adachi, M. Nishikawa and K. Hayashi, Nisshin Tec. Report, 63, 109 (1990).
• 2) S. Tsujikawa and K. Hisamatsu, Boshoku-Gijutsu (presently Zairyo-to-Kankyo), 29, 37 (1980).
• 3) Japanese Standard Association, JIS G 0592 (2002).
• 4) T. Sakaki and K. Inagaki, Tohso Tec.Report, 38, 71 (1994).
• 5) R. Matsuhashi, K. Katoh and M. Kaneko, Zairyo-to-Kankyo, 56, 56 (2007).

タイトルに関連する用語 (4件)： 環境 ,  ステンレス鋼 ,  すきま腐食 ,  電位