文献
J-GLOBAL ID：200902259052282522   整理番号：03A0106300

高精度での材料の同位体顕微イメージング

High precision isotope micro-imaging of materials.
著者 (3件)：
YURIMOTO H

YURIMOTO H について

(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)

Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN について

, 
NAGASHIMA K

NAGASHIMA K について

(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)

Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN について

, 
KUNIHIRO T

KUNIHIRO T について

(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)

Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN について


資料名：
Applied Surface Science  (Applied Surface Science)

Applied Surface Science について


巻： 203/204  ページ： 793-797  発行年： 2003年01月15日 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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新たに開発した固体イオンイメージャと結合してSIMSを用いる...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*二次イオン質量分析

二次イオン質量分析 について

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準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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アイソトポグラフィー

アイソトポグラフィー について

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分類 (2件)：
分類
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質量分析 
(CC03013N)

質量分析 について

,  流星,すい星,いん石 
(DB04040A)

流星,すい星,いん石 について

タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
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同位体

同位体 について

, 
イメージング

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