マイクロRaman分光法を使ったAlGaN/GaN電子デバイスの時間分解温度測定

KUBALL M.; RIEDEL G. J.; POMEROY J. W.; SARUA A.; UREN M. J.; MARTIN T.; HILTON K. P.; MACLEAN J. O.; WALLIS D. J.

文献

J-GLOBAL ID：200902259628494644 整理番号：07A0120355

マイクロRaman分光法を使ったAlGaN/GaN電子デバイスの時間分解温度測定

Time-Resolved Temperature Measurement of AlGaN/GaN Electronic Devices Using Micro-Raman Spectroscopy

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資料名：
巻： 28 号： 2 ページ： 86-89 発行年： 2007年02月
JST資料番号： B0344B ISSN： 0741-3106 CODEN： EDLEDZ 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

トランジスタの動作中の過渡温度は性能と信頼性の両方に影響する...

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トランジスタ , 温度測定,温度計 , 分光法と分光計一般

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