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J-GLOBAL ID：200902265881818855   整理番号：09A0604149

二段階パルスチューブ冷凍機の低周波数磁気雑音の特性評価

Characterization of a low frequency magnetic noise from a two-stage pulse tube cryocooler

著者 (4件)： ESHRAGHI M.j. (Dep. of Applied Sci. for Electronics and Materials, Kyushu Univ., Kasuga, 816-8580, JPN) ,  SASADA I. (Dep. of Applied Sci. for Electronics and Materials, Kyushu Univ., Kasuga, 816-8580, JPN) ,  KIM J.m. (Center for Brain & Cognitive Sci. Res., Korea Res. Inst. of Standards and Sci., 1 Doryong-Dong, Yuseong-Gu, Daejeon ...) ,  LEE Y.h. (Center for Brain & Cognitive Sci. Res., Korea Res. Inst. of Standards and Sci., 1 Doryong-Dong, Yuseong-Gu, Daejeon ...)
資料名： Cryogenics  (Cryogenics)
巻： 49  号： 7  ページ： 334-339  発行年： 2009年07月 
JST資料番号： D0115B  ISSN： 0011-2275  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 二段階プルスチューブ冷凍機(PT)の磁気雑音を基本モード直交フラックスゲート磁力計とLTS二重緩和振動SQUID(DROS)一次平面グラジオメータによって測定した。磁力計はアルミニウム製のデュワー内に第二パルスチューブの磁気再生物質を含む部分から12cmの距離に取り付けた。磁気雑音スペクトルには1.8Hzに明確なピークが現れた。これはHeガスのポンピング速度の基本周波数である。1.8Hzの磁気雑音は,第2コールドステージ温度が約12Kになる冷却運転過程の間にピークになった。このことは第2コールドステージ温度の1.8Hz変動とよく相関している。そこで,磁気雑音の主原因を,バックグランド静磁場下において磁気再生物質Er₃NiとHoCu₂から生ずる磁気モーメントの温度変化に帰着した。鉛シートの磁気遮蔽によって磁気再生物質から発生する低周波数磁気雑音が弱められることも指摘した。磁気再生物質から7cmの水平距離に置かれたLTS DROSグラジオメータで測定した磁気雑音振幅は,最適条件下で500pTのピーク対ピークよりも低かった。一方,鉛遮蔽がないときの雑音レベルは,DROS装置のダイナミックレンジ(約±10nT)よりも高かった。Copyright 2009 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *パルスチューブ冷凍機 ,  *SQUID ,  磁気モーメント ,  磁気遮蔽 ,  *低周波雑音 ,  磁力計
準シソーラス用語： グラジオメータ ,  雑音スペクトル ,  *磁気雑音

分類 (1件)： 冷凍装置  (PD03000T)

タイトルに関連する用語 (5件)： 段階 ,  パルスチューブ冷凍機 ,  低周波数 ,  磁気雑音 ,  特性評価