温度変調偏光解析法  担持高分子薄膜におけるガラス転移の新しいプローブ

EFREMOV Mikhail Yu.; KIYANOVA Anna V.; NEALEY Paul F.

文献

J-GLOBAL ID：200902265980728809 整理番号：08A0963035

温度変調偏光解析法担持高分子薄膜におけるガラス転移の新しいプローブ

Temperature-Modulated Ellipsometry: A New Probe for Glass Transition in Thin Supported Polymer Films

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資料名：
巻： 41 号： 16 ページ： 5978-5980 発行年： 2008年08月26日
JST資料番号： B0952A ISSN： 0024-9297 CODEN： MAMOBX 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

担持ポリスチレン(PS)及びポリメタクリル酸メチル(PMMA)薄膜のT_gを温度変調(TM)偏光解析法により測定した。担持PS及びPMMA薄膜はスピンコーティングによりSiウエハ上に調製した。TM走査モードにおいては加熱時間変調により温度が時間への直線依存性を有した。PS及びPMMA薄膜のT_gはそれぞれ97±2及び127±2°Cであった。TM走査モード偏光解析法は通常走査モードの場合に不適当な可逆及び非可逆熱転移過程を含有する未加熱処理膜におけるガラス転移の観察を可能にした。

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高分子固体の構造と形態学 , 偏光測定と偏光計

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温度変調偏光解析法 担持高分子薄膜におけるガラス転移の新しいプローブ

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