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J-GLOBAL ID：200902265980728809   整理番号：08A0963035

温度変調偏光解析法 担持高分子薄膜におけるガラス転移の新しいプローブ

Temperature-Modulated Ellipsometry: A New Probe for Glass Transition in Thin Supported Polymer Films

著者 (3件)： EFREMOV Mikhail Yu. (Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin) ,  KIYANOVA Anna V. (Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin) ,  NEALEY Paul F. (Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin)
資料名： Macromolecules  (Macromolecules)
巻： 41  号： 16  ページ： 5978-5980  発行年： 2008年08月26日 
JST資料番号： B0952A  ISSN： 0024-9297  CODEN： MAMOBX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 担持ポリスチレン(PS)及びポリメタクリル酸メチル(PMMA)薄膜のT_gを温度変調(TM)偏光解析法により測定した。担持PS及びPMMA薄膜はスピンコーティングによりSiウエハ上に調製した。TM走査モードにおいては加熱時間変調により温度が時間への直線依存性を有した。PS及びPMMA薄膜のT_gはそれぞれ97±2及び127±2°Cであった。TM走査モード偏光解析法は通常走査モードの場合に不適当な可逆及び非可逆熱転移過程を含有する未加熱処理膜におけるガラス転移の観察を可能にした。

シソーラス用語： *偏光解析法 ,  *ガラス転移点 ,  *高分子薄膜 ,  ポリスチレン ,  ポリメタクリル酸メチル ,  スピンコーティング ,  依存性 ,  示差走査熱量測定 ,  厚み依存性 ,  温度変調DSC
準シソーラス用語： 温度変調示差走査熱量測定 ,  *温度変調偏光解析法

分類 (2件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M) ,  偏光測定と偏光計  (BD07050K)

タイトルに関連する用語 (6件)： 温度変調 ,  偏光解析法 ,  担持 ,  高分子薄膜 ,  ガラス転移 ,  プローブ