Waltersスプリングで測定したYBCO被覆導体Ic(ε)特性のひずみ解析

SUGANO M.; CHOI S.; MIYAZOE A.; MIYAMATSU K.; ANDO T.; ITOH K.; KIYOSHI T.; WADA H.; SELVAMANICKAM V.

文献

J-GLOBAL ID：200902266156107370 整理番号：08A0683326

Waltersスプリングで測定したYBCO被覆導体Ic(ε)特性のひずみ解析

Strain Analysis of I_c(ε) Characteristic of YBCO Coated Conductor Measured by a Walters Spring

出版者サイト複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=08A0683326&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=08A0683326&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=W0177A") }}

著者 (9件)： , , , , , , , ,
資料名：
巻： 18 号： 2 ページ： 1143-1146 発行年： 2008年06月
JST資料番号： W0177A ISSN： 1051-8223 CODEN： ITASE9 資料種別：逐次刊行物 (A)
発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

, , ,

前のページに戻る