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J-GLOBAL ID：200902266630609102   整理番号：08A0206017

LHDにおけるマイクロ波画像反射率測定

Microwave Imaging Reflectometry in LHD

著者 (7件)： YAMAGUCHI S. (National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN) ,  NAGAYAMA Y. (National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN) ,  SHI Z. (Graduate Univ. for Advanced Studies, Miura 240-0193, JPN) ,  PAVLICHENKO R. (National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN) ,  INAGAKI S. (National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN) ,  KOGI Y. (Art Sci. and Technol. Center for Cooperative Res., Kyushu Univ., Kasuga 816-8580, JPN) ,  MASE A. (Art Sci. and Technol. Center for Cooperative Res., Kyushu Univ., Kasuga 816-8580, JPN)
資料名： Plasma and Fusion Research (Web)  (Plasma and Fusion Research (Web))
巻： 2  ページ： S1038-S1038 (J-STAGE)  発行年： 2007年 
JST資料番号： U0045A  ISSN： 1880-6821  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 大型ヘリカル装置(LHD)中の電子密度ゆらぎの2D/3D測定のためマイクロ波画像反射測定を開発している。LHDの真空容器中に回転可能な楕円面鏡を設置し鉛直方向及び水平方向の照射ビーム角を最適化した。反射表面近くで照射及び反射ビーム経路を光線追跡コードを用いて計算した。プラズマ実験で照射角を最適化した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *プラズマ診断 ,  電磁波反射 ,  *マイクロ波診断 ,  ステラレータ ,  電子密度 ,  プラズマ密度 ,  反射率計 ,  反射率 ,  電波ビーム ,  楕円面鏡 ,  画像診断 ,  電波画像 ,  光線追跡 ,  大型ヘリカル装置 ,  密度ゆらぎ
準シソーラス用語： LHD

分類 (1件)： プラズマ診断  (BJ02090L)

引用文献 (10件)：

• [1] C. Laviron et al., Plasma Phys. Control. Fusion 38, 905 (1996).
• [2] E. Mazzucato, Nucl. Fusion 41, 203 (2001).
• [3] E. Mazzucato, Plasma Phys. Control. Fusion 46, 1271 (2004).
• [4] T. Munsat et al., Rev. Sci. Instrum. 74, 1426 (2003).
• [5] H. Park et al., Rev. Sci. Instrum. 75, 3787 (2004).

タイトルに関連する用語 (3件)： LHD ,  マイクロ波画像 ,  反射率測定