抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサでは埋め込みフォトダイオードに蓄積する信号電荷検出部の寄生容量を小さくし,電荷-電圧変換利得を大きくすることで高感度化が図られている。また,アンプを共有した1.5トランジスタ/画素の画素回路によって高解像度が実現できる。本論文では,機能集積技術の応用例としてディジタルイメージセンサや,カラム集積用サイクリックADCによって実現された高速撮像について述べた。また,車載用カメラや複数の蓄積時間の信号を用いてダイナミックレンジ拡大を図る方法を説明し,集中読出しによる複数の蓄積時間信号の1フレーム内での読み出し原理BROME(Burst Readout Multiple Exposure)に基づく640×480画素広ダイナミックレンジCMOSイメージセンサを示した。さらに,高速電荷転送による距離検出原理を説明し,4点サンプリング法に基づいて背景光をキャンセルしながら距離画像を得るレンジファインダや,電荷排出構造を設けたCMOS TOF(Time-of-flight)レンジファインダを紹介した。