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J-GLOBAL ID：200902267675844443   整理番号：04A0899776

YBa₂Cu₃O_7-x薄膜の臨界指数に与える重イオン照射の線量効果

Dose effect of heavy-ion irradiation on the critical exponents in YBa₂Cu₃O_7-x thin films

著者 (9件)： SUEYOSHI T (Kumamoto Univ., Kumamoto, JPN) ,  INADA S (Kumamoto Univ., Kumamoto, JPN) ,  FUJIYOSHI T (Kumamoto Univ., Kumamoto, JPN) ,  MIYAHARA K (Kumamoto Univ., Kumamoto, JPN) ,  IKEGAMI T (Kumamoto Univ., Kumamoto, JPN) ,  MIYAGAWA R (Kumamoto Industrial Res. Inst., Kumamoto, JPN) ,  CHIMI Y (Japan Atomic Energy Res. Inst. (JAERI), Ibaraki, JPN) ,  ISHIKAWA N (Japan Atomic Energy Res. Inst. (JAERI), Ibaraki, JPN) ,  IWASE A (Japan Atomic Energy Res. Inst. (JAERI), Ibaraki, JPN)
資料名： Advances in Superconductivity  (Advances in Superconductivity)
巻： 16th  号： Pt.1  ページ： 497-501  発行年： 2004年 
JST資料番号： L1458A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標記薄膜における電流-電圧特性の臨界スケーリング解析から推定...

シソーラス用語： *重イオン照射 ,...

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分類 (2件)： その他の物質の放射線による構造と物性の変化  (BK16124V) ,  酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I)

タイトルに関連する用語 (3件)： 薄膜 ,  臨界指数 ,  重イオン照射