文献

J-GLOBAL ID：200902268427332866   整理番号：05A0003420

プラスプローブによる溶接部の渦流探傷試験について

著者 (3件)： 溝口賢一 (日本大 大学院) ,  星川洋 (日本大 生産工) ,  小山潔 (日本大 生産工)
資料名： 日本非破壊検査協会大会講演概要集  (日本非破壊検査協会秋季大会講演概要集)
巻： 2004  号： 秋季  ページ： 217-218  発行年： 2004年11月16日 
JST資料番号： L1257A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *電磁誘導検査 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=05A0003420&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=L1257A") }}

分類 (1件)： 溶接欠陥  (WC07130P)

タイトルに関連する用語 (3件)： プローブ ,  溶接部 ,  渦流探傷試験