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J-GLOBAL ID：200902268603055220   整理番号：08A0685702

材料の新しい評価方法-1 超高圧電子顕微鏡を用いた材料評価の進展

著者 (2件)： 松村晶 (九大 大学院工学研究院) ,  東田賢二 (九大 大学院工学研究院)
資料名： ふぇらむ  (日本鉄鋼協会会報)
巻： 13  号： 7  ページ： 487-493  発行年： 2008年07月01日 
JST資料番号： L2666A  ISSN： 1341-688X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： X線分析や電子エネルギー損失分光などの分析電子顕微鏡技術の急速な発展とともに,1MV以上の超高圧透過型電子顕微鏡(HVEM)は微小領域の状態解析研究に欠かせない実験手法の一つになってきた。ここでは,最近のHVEM技術の評価への応用例を紹介した。はじめに,九州大学に設置されたオメガ型電子エネルギーフィルター付で加速電圧400~1300kVのHVEM装置(JEM-1300NEF)概要と仕様を示した。HVEMの最大の特徴である高い透過能を活かした厚い試料の観察,また,その場観察への適用として,鉄鋼材料の格子欠陥研究,酸化セリウムCeO₂転位集合体の観察や3次元電子線トモグラフィーとの組合せによる転位の三次元組織解析への展開例を取上げた。

シソーラス用語： *高圧電子顕微鏡 ,  *電子顕微鏡観察 ,  電圧 ,  その場観察 ,  転位【結晶】 ,  格子欠陥
準シソーラス用語： 加速電圧

分類 (1件)： 金属組織観察法  (WB01010R)

引用文献 (19件)：

• FUJITA, H. J. Electron Microsc. Tech. 1986, 3, 243
• ARAKAWA, K. Science. 2007, 318, 956
• HAIDER, M. J. Electron Microsc. 1998, 47, 395
• MATSUMURA, S. J. Electron Microsc. Tech. 1989, 12, 262
• OOMOTO, K. Proc. 16th Int'l. Microscopy Congress, 2006. 2006, 2, 1131

タイトルに関連する用語 (4件)： 評価方法 ,  高圧電子顕微鏡 ,  材料評価 ,  進展