OYANAGI H. について
National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN について
TSUKADA A. について
NTT Basic Res. Lab., Kanagawa, JPN について
NAITO M. について
NTT Basic Res. Lab., Kanagawa, JPN について
SAINI N. L. について
Universita di Roma ‘La Sapienza’, Roma, ITA について
LAMPERT M.-O. について
Canberra-Eurisys SA, Tanneries, FRA について
GUTKNECHT D. について
Canberra-Eurisys SA, Tanneries, FRA について
DRESSLER P. について
Canberra-Eurisys SA, Tanneries, FRA について
OGAWA S. について
Ogawa Consulting Engineer’s Office, Shizuoka, JPN について
KASAI K. について
NE Software, Ibaraki, JPN について
MOHAMED S. について
National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN について
FUKANO A. について
National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN について
Journal of Synchrotron Radiation について
超伝導薄膜 について
その他の構造決定法 について
Ge について
画素配列 について
検出器 について
蛍光 について
X線吸収分光法 について
超伝導薄膜 について
単結晶 について
応用 について