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J-GLOBAL ID：200902268926904390   整理番号：08A0546179

人間の視覚系に基づくTFT-LCD画像欠陥検査方法の開発

A Development of the TFT-LCD Image Defect Inspection Method Based on Human Visual System

著者 (4件)： OH Jong-Hwan (Kyungpook National Univ., Daegu, KOR) ,  YUN Byoung-Ju (Kyungpook National Univ., Daegu, KOR) ,  KIM Se-Yun (Kyungpook National Univ., Daegu, KOR) ,  PARK Kil-Houm (Kyungpook National Univ., Daegu, KOR)
資料名： IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E91-A  号： 6  ページ： 1400-1407  発行年： 2008年06月01日 
JST資料番号： F0699C  ISSN： 0916-8508  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： TFT-LCD画像の輝度は一様ではなく,これはフィールド中のムラと呼ぶ可視欠陥を発見する際の主な障害である。ムラ検出を容易にするため,背景信号の濃淡は一様でなければならず,ムラ信号は増幅しなければならない。本論文では,ムラ信号の増幅と,背景信号の平坦化方法を,人間の視覚系(HVS)に基づき提案する。提案した直流正規化コントラスト感度関数(CFS)をムラ信号増幅に使用し,多項式回帰(PR)を使用して背景雑音を平坦化する。この改善を行った画像で,3モードしきい値化セグメンテーション技法を使用し,黒ムラと白ムラを同時に発見する。信頼できる欠陥を選択するため,誤って検出した不可視領域はWeberの法則に基づいて除去する。人工的に作成した1次元信号とTFT-LCD画像を用いた実験結果によると,提案したアルゴリズムは新しい改善結果を示し,実際の自動検査システムに適用できる。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *液晶ディスプレイ ,  *欠陥検査 ,  視覚器 ,  人間 ,  ディジタル画像 ,  輝度 ,  均一性 ,  むら ,  信号増幅 ,  画像 ,  形状覚 ,  視知覚 ,  回帰モデル ,  雑音 ,  閾値 ,  セグメンテーション ,  画像処理 ,  計算機アルゴリズム ,  自動検査システム ,  実験 ,  背景雑音 ,  画像セグメンテーション ,  評価実験
準シソーラス用語： *TFT-LCD ,  背景画像 ,  平坦化 ,  コントラスト感度

分類 (2件)： 入出力装置  (JC04050U) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

引用文献 (18件)：

• JANG, J. Technology development and production of flat panel displays in Korea. Proc. IEEE. 2002, 90, 4, 501-513
• OH, J. H. Line defect detection in TFT-LCD using directional filter bank and adaptive multilevel thresholding. Key Engineering Materials. 2004, 270, 233-238
• VESA Flat Panel Display Measurements Standard. 2001
• TANIGUCHI, K. A detection method of mura on a coated layer using interference light. 2006 IEEE International Conference on System, Man, and Cybernetics, Oct. 2006, 5047-5052
• BAEK, S.-I. Inspection of defect on lcd panel using polynomial approximation. Tencon 2004. 2004, A, 235-238

タイトルに関連する用語 (6件)： 人間 ,  視覚系 ,  TFT-LCD ,  画像欠陥 ,  検査 ,  開発