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J-GLOBAL ID：200902269195371025   整理番号：06A0058411

センサの縮退故障を考慮することによる符号付き有向グラフを用いる故障診断アルゴリズムの改良

Improvement of a Fault Diagnosis Algorithm Using a Signed Digraph with Considering Stuck Faults in Sensors

著者 (3件)： TATENO Shigeyuki (Graduate School of Information, Production and Systems, Waseda Univ.) ,  MATSUYAMA Hisayoshi (Graduate School of Information, Production and Systems, Waseda Univ.) ,  TSUGE Yoshifumi (Dep. of Chemical Engineering, Fac. of Engineering, Kyushu Univ.)
資料名： Journal of Chemical Engineering of Japan  (Journal of Chemical Engineering of Japan)
巻： 39  号： 1  ページ： 34-42 (J-STAGE)  発行年： 2006年 
JST資料番号： S0629A  ISSN： 0021-9592  CODEN： JCEJAQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 符号付き有向グラフを用いる多数の故障の原因を探索する診断法を...

シソーラス用語： *有向グラフ ,...

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分類 (2件)： その他のシステムプログラミング  (JD03070M) ,  安全管理  (KB06000D)

引用文献 (6件)：

• Iri, M., K. Aoki, E. O’shima and H. Matsuyama; “An Algorithm for Diagnosis of System Failures in the Chemical Process,” Comput. Chem. Eng., 3, 489–493 (1979)
• Shiozaki, J., H. Matsuyama, K. Tano and E. O’shima; “Diagnosis of Chemical Process by Use of Signed Digraphs—Extension to 5-Range Patterns of Abnormality,” Kagaku Kogaku Ronbunshu, 10, 233–239 (1984)
• Shiozaki, J., T. Matsuzaki, H. Matsuyama and E. O’shima; “Fault Diagnosis of Chemical Processes by Use of Signed Directed Graphs—Algorithm to Search Multiple Origins of Failures,” Kagaku Kogaku Ronbunshu, 11, 343–346 (1985)
• Vedam, H. and V. Venkatasubramanian; “Signed Digraph Based Multiple Fault Diagnosis,” Comput. Chem. Eng., 21, S655–S660 (1997)
• Washio, T., M. Sakuma and M. Kitamura; “A New Approach to Quantitative and Credible Diagnosis for Multiple Faults of Components and Sensors,” Artif. Intell., 91, 103–130 (1997)

タイトルに関連する用語 (5件)： 縮退故障 ,  符号 ,  有向グラフ ,  故障診断 ,  アルゴリズム