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J-GLOBAL ID：200902269393901943   整理番号：05A0968376

多重試験メトリックスを用いたIC異常値の判別

IC Outlier Identification Using Multiple Test Metrics

著者 (2件)： SABADE Sagar S. (Texas Instruments) ,  WALKER Duncan M. (Texas A&M Univ.)
資料名： IEEE Design & Test of Computers  (IEEE Design & Test of Computers)
巻： 22  号： 6  ページ： 586-595  発行年： 2005年11月 
JST資料番号： B0007C  ISSN： 0740-7475  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 半導体製造プロセスの進展とともに,ICは高速,より強力および...

シソーラス用語： *半導体チップ ,...

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (6件)： 多重 ,  試験 ,  メトリックス ,  IC ,  異常値 ,  判別