文献

J-GLOBAL ID：200902270658735658   整理番号：05A0351248

屈折率の温度依存性を正確に測定する新しい方法

A New Method for Accurately Measuring Temperature Dependence of Refractive Index

著者 (4件)： TOMIKI Masahiro (Shizuoka Univ., Shizuoka, JPN) ,  KURIHARA Naohiro (Shizuoka Univ., Shizuoka, JPN) ,  SUGIHARA Okihiro (Tohoku Univ., Miyagi, JPN) ,  OKAMOTO Naomichi (Shizuoka Univ., Shizuoka, JPN)
資料名： Optical Review  (Optical Review)
巻： 12  号： 2  ページ： 97-100  発行年： 2005年04月01日 
JST資料番号： L2272A  ISSN： 1340-6000  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高分子の屈折率の温度依存性を高精度で測定できる新しい方法を提...

シソーラス用語： *高分子薄膜 ,...
準シソーラス用語： mライン法

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分類 (2件)： 屈折及び反射の測定と装置  (BD07060V) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L)

引用文献 (6件)：

• KANEKO, A. Proc. Int. Microoptic Conference, 1995. 1995, 234
• WAXLER, R. M. Appl. Opt. 1979, 18, 101
• CARIOU, J. M. Appl. Opt. 1986, 25, 334
• MOSHREFZADEH, R. S. J. Lightwave Technol. 1992, 10, 420
• TIEN, P. K. J. Opt. Soc. Am. 1970, 60, 1325

タイトルに関連する用語 (2件)： 屈折率 ,  温度依存性