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J-GLOBAL ID：200902270839539354   整理番号：05A0576221

結晶質シリコンの短絡回路電流劣化に関する研究:初期結果

CRYSTALLINE SILICON SHORT-CIRCUIT CURRENT DEGRADATION STUDY: INITIAL RESULTS

著者 (3件)： OSTERWALD C R (National Renewable Energy Lab. (NREL), CO) ,  PRUETT J (National Renewable Energy Lab. (NREL), CO) ,  MORIARTY T (National Renewable Energy Lab. (NREL), CO)
資料名： Conference Record of the IEEE Photovoltaic Specialists Conference  (Conference Record of the IEEE Photovoltaic Specialists Conference)
巻： 31st  ページ： 1335-1338  発行年： 2005年 
JST資料番号： E0756A  ISSN： 0160-8371  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 以前,実時間室外,加速条件下の室外と加速条件下の室内露光方法...

シソーラス用語： *太陽電池 ,...

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分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (4件)： 結晶質シリコン ,  短絡回路電流 ,  研究 ,  初期