文献

J-GLOBAL ID：200902273782564658   整理番号：04A0318721

XPS分析における有機材料の試料損傷

Sample Surface Degradation of Organic Materials Caused during XPS Analysis

著者 (1件)： 当麻肇 (日産アーク)
資料名： 表面科学  (JSSSJ)
巻： 25  号： 4  ページ： 192-197  発行年： 2004年04月10日 
JST資料番号： F0940B  ISSN： 0388-5321  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： X線光電子分光法(XPS)は,試料破壊の度合いが比較的低い表...

シソーラス用語： *X線光電子スペクトル ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=04A0318721&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=F0940B") }}

分類 (1件)： 有機物質中の元素の物理分析  (CC03032S)

引用文献 (23件)：

• 1) D. Briggs: “Practical Surface Analysis”, ed. by D. Briggs and M.P. Seah (John Wiley & Sons, Chichester, 1983).
• 2) S. Storp: Spectrochimica Acta. 40 B, 745 (1985).
• 3) 大石不二夫,成沢郁夫:“プラスチック材料の寿命” (日刊工業新聞社,1987).
• 4) C.J. Powell and M.P. Seah: J. Vac. Sci. Technol. A 8, 735 (1990).
• 5) R. Chaney and G. Bath: Fresenius Z. Anal. Chem. 329, 143 (1987).

タイトルに関連する用語 (4件)： XPS分析 ,  有機材料 ,  試料 ,  損傷