ZHOU S K について
Siemens Corporate Res., NJ, USA について
CHELLAPPA R について
Univ. Maryland, MD, USA について
MOGHADDAM B について
Mitsubishi Electric Res. Lab. (MERL), MA, USA について
IEEE Transactions on Image Processing について
追跡 について
パターン認識 について
図形・画像処理一般 について
粒子フィルタ について
外観 について
適応モデル について
視覚的追跡 について