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J-GLOBAL ID：200902275849277619   整理番号：09A0848812

p⁺-n^--n⁺ダイオードにおける定常破壊カソード側フィラメントの形成について

On the formation of stationary destructive cathode-side filaments in p⁺-n^--n⁺ diodes

著者 (5件)： BABURSKE Roman (Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU) ,  HEINZE Birk (Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU) ,  NIEDERNOSTHEIDE Franz-Josef (Infineon Technol. AG, Neubiberg, DEU) ,  LUTZ Josef (Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU) ,  SILBER Dieter (Univ. Bremen, Bremen, DEU)
資料名： Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs  (Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs)
巻： 21st  ページ： 41-44  発行年： 2009年 
JST資料番号： W1300A  ISSN： 1943-653X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 逆方向回復期間に空乏層中に生じる電流フィラメントにより高電力用途のp⁺-n^--n⁺ダイオードにホットスポット故障をもたらす可能性がある。本稿では,電熱シミュレーションにより逆方向回復期間中の本ダイオードの破壊モードを調べた。プラズマ層のフロント速度を考慮し,高電界領域における電子と正孔の速度飽和がカソード側プラズマ層フロントの垂直伝播方向を変化させることを示した。フィラメントの近傍における空乏層の減少はフィラメントの横方向運動を妨げ,局所的加熱を強め,破壊的な熱フィラメントを形成することを明らかにした。最後に,裏面正孔の制御注入(CIBH)により,定常カソード側フィラメントによるダイオードの破壊を防止できることを示した。

シソーラス用語： *ダイオード ,  破壊 ,  カソード ,  フィラメント ,  ホットスポット ,  *故障解析 ,  シミュレーション ,  *破壊モード ,  空乏層 ,  キャリア注入 ,  プラズマ ,  正孔注入

分類 (2件)： ダイオード  (NC03050R) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： ダイオード ,  破壊 ,  カソード ,  フィラメント