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J-GLOBAL ID：200902276863985924   整理番号：09A0481663

Irena:小角散乱模型化および解析用のツールパッケージ

Irena: tool suite for modeling and analysis of small-angle scattering

著者 (2件)： ILAVSKY Jan (Argonne National Lab., IL, USA) ,  JEMIAN Peter R. (Argonne National Lab., IL, USA)
資料名： Journal of Applied Crystallography  (Journal of Applied Crystallography)
巻： 42  号： 2  ページ： 347-353  発行年： 2009年04月 
JST資料番号： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Irenaの小角散乱(SAS)パッケージは,材料科学,化学,高分子科学,そしてSASが利用される多くの他の分野での研究に適用できるX線および中性子小角散乱を解析するためのツールを含んでいる。GuinierおよびPorod適合のほかに,パッケージは,最大エントロピー法を用いた希薄限界での寸法分布の模型化,相互作用しない多重散乱体分布からの希薄限界小角散乱,対距離分布関数,統一化された適合,Debye-Bueche模型,Parrat形式を用いた反射率,そして小角回折のたの多様な先端的SASデータ評価ツールを結合している。多くの便利な支援ツールも含まれている。IrenaはAPS USAXS装置の利用者を支援するために開発されたが,世界中のSAS学界にとって一般的に有用な使いやすいツールに成長した。

シソーラス用語： *小角散乱 ,  *モデリング ,  小角中性子散乱 ,  小角X線散乱 ,  *構造解析 ,  最大エントロピー法 ,  長さ ,  分布
準シソーラス用語： 希薄限界小角散乱 ,  寸法 ,  寸法分布 ,  中性子小角散乱

分類 (1件)： 構造決定法・回折結晶学一般  (BK01010X)

タイトルに関連する用語 (5件)： 小角散乱 ,  模型化 ,  解析 ,  ツール ,  パッケージ