文献

J-GLOBAL ID：200902278576982488   整理番号：07A0377307

FIB堆積法によって形成されたミクロ電極によるC₆₀誘導体単分子膜/Au膜の電気伝導測定

著者 (4件)： 松山史彦 (日本大 理工) ,  小田智康 (日本大 理工) ,  岩田展幸 (日本大 理工) ,  山本寛 (日本大 理工)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 54th  号： 2  ページ： 695  発行年： 2007年03月27日 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 化学蒸着 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=07A0377307&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=Y0054A") }}

分類 (3件)： 金属薄膜  (BK14030T) ,  その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A) ,  金属-絶縁体-金属構造  (BM03087F)

タイトルに関連する用語 (8件)： FIB ,  堆積 ,  ミクロ電極 ,  C60 ,  誘導体 ,  単分子膜 ,  Au ,  電気伝導