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J-GLOBAL ID:200902280659961606   整理番号:08A0854837

X線相反空間写像で観察したヘテロエピタキシャルLa0.67Ca0.33MnO3/NdGaO3(110)Orの斜方晶系格子歪の厚み発展

The thickness evolution of orthorhombic lattice distortions in heteroepitaxial La0.67Ca0.33MnO3/NdGaO3(110)Or observed by x-ray reciprocal space mapping
著者 (5件):
資料名:
巻: 41  号: 15  ページ: 152001,1-4  発行年: 2008年08月07日 
JST資料番号: B0092B  ISSN: 0022-3727  CODEN: JPAPBE  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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斜方晶系NdGaO3(100)Or(NGO)基板上に厚み6~60nmのLa0.67Ca0.33MnO3(LCMO)膜をパルスレーザ蒸着によりエピタキシャル成長させた。高分解能鏡面外X線相反空間写像を用いて,擬似立方晶系LCMO(001)/NGO(001)の角度のずれを明確に観察し,膜中の格子歪の厚み発展を調べた。30nm以上では膜は角度方向に緩和したが,薄い膜では剪断歪が生じた。格子不整合は無視できるが,剪断歪は超薄膜LCMOの輸送特性に重大であると論じた。
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分類 (1件):
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酸化物薄膜 

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