自発放射の制御された変調による単結晶CdSeナノ結晶の放射性および非放射性減衰速度の測定

BROKMANN X; COOLEN L; DAHAN M; HERMIER J P

文献

J-GLOBAL ID：200902281367600528 整理番号：04A0714899

自発放射の制御された変調による単結晶CdSeナノ結晶の放射性および非放射性減衰速度の測定

Measurement of the Radiative and Nonradiative Decay Rates of Single CdSe Nanocrystals through a Controlled Modification of their Spontaneous Emission

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資料名：
巻： 93 号： 10 ページ： 107403.1-107403.4 発行年： 2004年09月03日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

個々の蛍光体の放射および非放射再結合速度を,室温で測定する簡...

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半導体薄膜 , 半導体のルミネセンス

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