QIAN Gujie について
Key Lab. for Ultrafine Materials of Ministry of Education, School of Materials Sci. and Engineering, Shanghai 200237 ... について
BACCARO S. について
ENEA-FIM, Via Anguillarese 301, 00123 S. Maria di Galeria (Rome), ITA について
GUERRA A. について
ENEA-FIM, Via Anguillarese 301, 00123 S. Maria di Galeria (Rome), ITA について
XIAOLUAN Liang について
Key Lab. for Ultrafine Materials of Ministry of Education, School of Materials Sci. and Engineering, Shanghai 200237 ... について
SHUANGLONG Yuan について
Key Lab. for Ultrafine Materials of Ministry of Education, School of Materials Sci. and Engineering, Shanghai 200237 ... について
IURLARO G. について
ENEA-FIM, Via Anguillarese 301, 00123 S. Maria di Galeria (Rome), ITA について
CHEN Guorong について
Key Lab. for Ultrafine Materials of Ministry of Education, School of Materials Sci. and Engineering, Shanghai 200237 ... について
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms について
照射損傷 について
半導体のルミネセンス について
半導体の放射線による構造と物性の変化 について
CeO2 について
TiO2 について
ZnO について
シンチレーション について
ガラス について
ガンマ線 について
照射効果 について