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J-GLOBAL ID：200902281606294540   整理番号：08A0585715

交流電界中での運動制御による帯電微粒子のサンプリング

Sampling of Charged Fine Particles by Motion Control under AC Field

著者 (6件)： 松坂修二 (京大 大学院工学研究科) ,  葭谷一史 (京大 大学院工学研究科) ,  田子裕之 (京大 大学院工学研究科) ,  新居辰彦 (京大 大学院工学研究科) ,  増田弘昭 (京大 大学院工学研究科) ,  岩松正 (シャープ 生産技術開発セ)
資料名： 粉体工学会誌  (Journal of the Society of Powder Technology, Japan)
巻： 45  号： 6  ページ： 387-394  発行年： 2008年06月10日 
JST資料番号： S0129A  ISSN： 0386-6157  CODEN： FKKADA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本研究では,定在波型交流電界を利用して,気相中に分散した帯電粒子を壁に沈着させることなく,測定セルの投入位置まで運ぶ粒子サンプリング装置の開発を目的として,必要な基礎データーを取得する。本サンプリング法と実際の計測システムとの適合性を検証するため,帯電量分布測定装置と組み合わせて実験を行った結果,以下の結論が得られた。交流電圧と周波数が小さいとき,帯電微粒子は交流印加電極に沈着するが,電圧および周波数を大きくすると,交流印加電極およびその周辺を含めたすべての表面において粒子の沈着を防止できる。交流電界を印加すると,帯電微粒子は傾斜壁の表面から1mm程度離れたところを振動しながら壁に近づくことなく斜め下方に移動する。二つのFPC基板が接近する下部開口部は,帯電微粒子を測定セルに導入する重要な部分であり,多くの粒子は,振動しながら間隙の中央を鉛直下方に通過するが,間隙部に保持される粒子も存在する。下部開口部における粒子の振幅は,印加電圧を上げるほど,また周波数を小さくするほど大きくなる。本サンプリング装置を帯電量分布測定装置と組み合わせて実験を行った結果,強く帯電した微粒子を壁に選択的に付着させることなく測定セルに導入して,帯電量分布を測定することができた。

シソーラス用語： *交流電場 ,  *運動制御 ,  *帯電 ,  *微粒子 ,  *試料採取 ,  固体粒子 ,  計測器 ,  周波数 ,  電極 ,  沈着 ,  基板 ,  付着
準シソーラス用語： *サンプリング【試料採取】 ,  測定装置

分類 (1件)： 粉体工学  (XD03010M)

引用文献 (21件)：

• MATSUSAKA, S. Electrostatics of Particles. Adv. Powder Technol. 2003, 14, 143-166
• SCHEIN, L. B. Electrophotography and Development Physics. 1988, 87-92
• GEE, G. P. Quantitative Charge Spectrometer. J. Imaging Sci. Technol. 1994, 38, 538-545
• MAZUMDER, M. K. Measurement of Particle Size and Electrostatic Charge Distributions on Toners Using E-SPART Analyzer. IEEE Trans. Indust. Appl. 1991, 27, 611-619
• MASUDA, H. Charge Distribution Measurement of Aerosol Particles. J. Aerosol Res. Japan. 1993, 8, 325-332

タイトルに関連する用語 (5件)： 交流 ,  電界 ,  運動制御 ,  帯電微粒子 ,  サンプリング