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J-GLOBAL ID：200902283921734011   整理番号：03A0754113

高分子基盤内のモノリシックカラムアレイを用いた直接エレクトロスプレイ質量分析のためのチップベースの固相抽出前処理

Chip-Based Solid-Phase Extraction Pretreatment for Direct Electrospray Mass Spectrometry Analysis Using an Array of Monolithic Columns in a Polymeric Substrate

著者 (3件)： TAN A (Cornell Univ., New York) ,  BENETTON S (Cornell Univ., New York) ,  HENION J D (Cornell Univ., New York)
資料名： Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)
巻： 75  号： 20  ページ： 5504-5511  発行年： 2003年10月15日 
JST資料番号： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： エレクトロスプレイ質量分析(ESI-MS)の直接連結の前に生...

シソーラス用語： *三環式抗うつ薬 ,...

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分類 (3件)： 抽出  (CC01040H) ,  有機化合物の物理分析  (CC03034A) ,  薬物の分析  (GV01040Q)

物質索引 (2件)： イミプラミン ,  エチレンジメタクリラート

タイトルに関連する用語 (5件)： 高分子 ,  基盤 ,  エレクトロスプレイ質量分析 ,  固相抽出 ,  前処理