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J-GLOBAL ID：200902284350410104   整理番号：05A0922034

赤外線サーモグラフィによる表面近傍の微小空洞欠陥の検出

Detection of Small Cavities Near the Surface by Infrared Thermography

著者 (3件)： 石井明 (香川大 工) ,  尾崎保史 (香川大 大学院) ,  平田英之 (香川大 工)
資料名： 材料試験技術  (Journal of Material Testing Research Association of Japan)
巻： 50  号： 4  ページ： 163-169  発行年： 2005年10月15日 
JST資料番号： S0909A  ISSN： 0285-2470  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 表面近傍の微少空洞欠陥の検出に対し,パルス加熱法による赤外線...

シソーラス用語： *サーモグラフィー ,...

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分類 (3件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  温度測定,温度計  (AD06010K) ,  科学写真  (ZA04040T)

タイトルに関連する用語 (4件)： 赤外線サーモグラフィ ,  近傍 ,  微小空洞 ,  欠陥