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J-GLOBAL ID：200902284500514485   整理番号：04A0177624

材料表面の原子間力顕微鏡を使用するナノフラクタル解析

Nanofractal Analysis of Material Surfaces Using Atomic Force Microscopy

著者 (4件)： KHAMESEE M B (Mie Univ., Tsu, JPN) ,  KUROSAKI Y (Mie Univ., Tsu, JPN) ,  MATSUI M (Mie Univ., Tsu, JPN) ,  MURAI K (Mie Univ., Tsu, JPN)
資料名： Materials Transactions  (Materials Transactions)
巻： 45  号： 2  ページ： 469-478  発行年： 2004年02月20日 
JST資料番号： G0668A  ISSN： 1345-9678  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノテクノロジーに関連して,4種の材料(純Al薄板,Al合金...

シソーラス用語： 高速Fourier変換 ,...
準シソーラス用語： 自己アフィン性

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分類 (1件)： 金属の表面構造  (BK15020P)

引用文献 (7件)：

• 1) O. Kienzle and K. Mietzner: Atlas Umgeformter Metallisher Oberflachen, 19, (Springer-Verlag, 1967).
• 2) K. Yamaguchi, S. Nishimura, N. Takakura and M. Hukuda: J. Japan Soc. Technol. Plast. (in Japanese), 21-237 (1980) 909-916.
• 3) H.O. Peitgen and D. Saupe: The Science of Fractal Images, 45, (Springer-Verlag, 1988).
• 4) Y. Kurosaki, M. Matsui, T. Takayama and A. Nakanishi: JSME Int. J., Ser. C 41-3 (1998) 485-492.
• 5) M. Matsui, Y. Kurosaki, M.B. Khamesee and K. Murai: J. Japan Soc. Technol. Plast. 43-498 (2002) 644-648.

タイトルに関連する用語 (2件)： 原子間力顕微鏡 ,  フラクタル解析