UMEYAMA S について
National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN について
GODIN G について
National Res. Council of Canada, Ontario, CAN について
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence について
画像分析 について
球面反射 について
図形・画像処理一般 について
システム・制御理論一般 について
偏光 について
画像統計解析 について
表面反射 について
鏡面反射 について